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文献
J-GLOBAL ID：201702262726258103
整理番号：17A1917428
Vバンドでの高性能二重偏波近接場プローブはミリ波球面近傍界測定の性能向上を提供する【Powered by NICT】
High performance dual polarized near-field probe at V-band provides increased performances for millimeter wave spherical near-field measurements
Giacomini A.
(Microwave Vision Italy s.r.l., Via dei Castelli Romani, 59, 00071 Pomezia, Italy)
,
Foged L. J.
(Microwave Vision Italy s.r.l., Via dei Castelli Romani, 59, 00071 Pomezia, Italy)
,
Szpindor E.
(Orbit/FR Inc., 650 Louis Dr., Suite 100, Warminster, 18974, PA, USA)
,
Zhang W.
(Orbit/FR Inc., 650 Louis Dr., Suite 100, Warminster, 18974, PA, USA)
,
Iversen P. O.
(Orbit/FR Inc., 650 Louis Dr., Suite 100, Warminster, 18974, PA, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： AMTA ページ： 1-6 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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