文献
J-GLOBAL ID:201702262743621419
整理番号:17A1267858
ディジタル回路のための高レベル試験導出法の故障検出率について【Powered by NICT】
On the fault coverage of high-level test derivation methods for digital circuits
著者 (3件):
Lopez Jorge
(Tomsk State University, Tomsk, Russia)
,
Vinarsky Evgeny
(Lomonosov Moscow State University, Moscow, Russia)
,
Laputenko Andrey
(Tomsk State University, Tomsk, Russia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EDM
ページ:
184-189
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)