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文献
J-GLOBAL ID：201702262815602599
整理番号：17A1570056
オンチッププロセス監視回路を用いた高速SSTドライバの自己較正からのEMIコモンモード(CM)雑音の抑制【Powered by NICT】
EMI common-mode (CM) noise suppression from self-calibration of high-speed SST driver using on-chip process monitoring circuit
Maqbool Khawaja Qasim
(High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong)
,
Luo Duona
(High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong)
,
Zhu Guang
(High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong)
,
Luo Xingyun
(Huawei Shenzhen, China)
,
Yu Huichun
(Huawei Shenzhen, China)
,
Yue C. Patrick
(High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： ISCAS ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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