文献
J-GLOBAL ID:201702262818348501
整理番号:17A1265385
VMDとSTEKFに基づく新しい高調波測定法【Powered by NICT】
A new harmonic measurement method based on VMD and STEKF
著者 (1件):
Wang Lingyun
(College of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, 430074)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CCDC
ページ:
1917-1922
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)