文献
J-GLOBAL ID:201702263371912175
整理番号:17A0545256
構造物の変位計測のための小型コーナーリフレクタを用いた散乱計測
Measurement of scattering from small corner reflectors for structure deformation monitoring
著者 (3件):
辻野雅博
(京大 工)
,
須崎純一
(京大 工)
,
穴原琢磨
(宇宙航空研究開発機構)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
116
号:
499(WPT2016 64-84)
ページ:
53-58
発行年:
2017年02月27日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)