文献
J-GLOBAL ID:201702263769960683
整理番号:17A1259331
ロックイン増幅器に基づくDCマイクログリッドシステムに埋め込まれた故障点標定【Powered by NICT】
Embedded fault location in DC microgrid systems based on a Lock-In Amplifier
著者 (2件):
Paz Francisco
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, Canada)
,
Ordonez Martin
(Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, Canada)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PEDG
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)