文献
J-GLOBAL ID:201702263771038309
整理番号:17A1350294
黒リン電界効果トランジスタの性能に及ぼす電子ビーム照射の影響【Powered by NICT】
Effect of electron beam irradiation on black phosphorus field effect transistor performance
著者 (4件):
Goyal Natasha
(Dept. of Electrical Engineering, IIT Bombay, Powai, Mumbai, India - 400076)
,
Kaushik Naveen
(Dept. of Electrical Engineering, IIT Bombay, Powai, Mumbai, India - 400076)
,
Jawa Himani
(Dept. of Electrical Engineering, IIT Bombay, Powai, Mumbai, India - 400076)
,
Lodha Saurabh
(Dept. of Electrical Engineering, IIT Bombay, Powai, Mumbai, India - 400076)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
DRC
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)