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文献
J-GLOBAL ID:201702263848373471   整理番号:17A1255461

生産試験データの統計的解析による半導体製造におけるRe燃焼の除去【Powered by NICT】

Eliminating Re-Burn-In in semiconductor manufacturing through statistical analysis of production test data
著者 (3件):
Pham Hung V.
(School of Engineering, RMIT University, Centre of Technology Ho Chi Minh City, Vietnam)
Demidenko Serge N.
(School of Engineering & Advanced Technology, Massey University, Auckland, New Zealand)
Merola Giovanni M.
(Department of Mathematical Sciences, Xi’an Jiaotong Liverpool University, Suzhou, China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: I2MTC  ページ: 1-6  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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