文献
J-GLOBAL ID:201702263903136309
整理番号:17A1262865
OFDMビット誤り率性能に及ぼす時間インタリーブA DC回路におけるオフセット不整合の影響【Powered by NICT】
Effect of Offset Mismatch in Time-Interleaved ADC Circuits on OFDM-BER Performance
著者 (3件):
Huynh Vo-Trung-Dung
(TELIN Department, Digital Communications Research Group, Ghent University, Ghent, Belgium)
,
Noels Nele
(TELIN Department, Digital Communications Research Group, Ghent University, Ghent, Belgium)
,
Steendam Heidi
(TELIN Department, Digital Communications Research Group, Ghent University, Ghent, Belgium)
資料名:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻:
64
号:
8
ページ:
2195-2206
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0226B
ISSN:
1549-8328
CODEN:
ITCSCH
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)