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文献
J-GLOBAL ID：201702264158641414
整理番号：17A0448777
ITO系セラミック薄膜熱電対のアニーリング効果【Powered by NICT】
Annealing effects in ITO based ceramic thin film thermocouples
Zhao Xiaohui
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
,
Li Haitao
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
,
Yang Ke
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
,
Jiang Shuwen
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
,
Jiang Hongchuan
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
,
Zhang Wanli
(State Key Laboratory of Electronic Thin Film and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
資料名：
Journal of Alloys and Compounds
(Journal of Alloys and Compounds)
巻： 698 ページ： 147-151 発行年： 2017年
JST資料番号： D0083A ISSN： 0925-8388 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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