文献
J-GLOBAL ID:201702264400027557
整理番号:17A1633251
CリッチSiC_xマイクロリングにおける偏光操作された全光断面波長データインバージョン【Powered by NICT】
Polarization-manipulated all-optical cross-wavelength data inversion in a C-rich SiCx micro-ring
著者 (7件):
Hsieh Cheng-Hsuan
(Graduate Institute of Photonics and Optoelectronics, and Department of Electrical Engineering, National Taiwan University, 1, Roosevelt Road Sec. 4, Taipei 106, Taiwan, Republic of China. grlin@ntu.edu.tw)
,
Cheng Chih-Hsien
,
Chen Po-Han
,
Wang Huai-Yung
,
Tsai Cheng-Ting
,
Chi Yu-Chieh
,
Lin Gong-Ru
資料名:
Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices
(Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices)
巻:
5
号:
39
ページ:
10158-10166
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2383A
ISSN:
2050-7526
CODEN:
JMCCCX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)