文献
J-GLOBAL ID:201702264441303921
整理番号:17A1696900
ミクロスフェアを用いた位相シフトプロフィロメトリ
Microsphere-assisted phase-shifting profilometry
著者 (8件):
PERRIN Stephane
(Univ. Strasbourg, Illkirch-Graffenstaden, FRA)
,
LEONG-HOIE Audrey
(Univ. Strasbourg, Illkirch-Graffenstaden, FRA)
,
LECLER Sylvain
(Univ. Strasbourg, Illkirch-Graffenstaden, FRA)
,
PFEIFFER Pierre
(Univ. Strasbourg, Illkirch-Graffenstaden, FRA)
,
KASSAMAKOV Ivan
(Univ. Helsinki, Helsinki, FIN)
,
NOLVI Anton
(Univ. Helsinki, Helsinki, FIN)
,
HAEGGSTROEM Edward
(Univ. Helsinki, Helsinki, FIN)
,
MONTGOMERY Paul
(Univ. Strasbourg, Illkirch-Graffenstaden, FRA)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
56
号:
25
ページ:
7249-7255
発行年:
2017年09月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)