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文献
J-GLOBAL ID：201702264443219680
整理番号：17A1724432
~85Rb6P_3/2状態の超微細構造の精密測定【Powered by NICT】
Precision measurement of the hyperfine structure of the 85Rb 6P3/2 state
Zhang Shengnan
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Zhang Xiaogang
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Jiang Zhaojie
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Shang Haosen
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Chang Pengyuan
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Chen Jingbiao
(State Key Laboratory of Advanced Optical Communication, System and Network, School of Electronics Engineering and Computer Science, Peking University, Beijing 100871, China)
,
Lian Jiqing
(National Key Laboratory of Science and Technology on Vacuum Technology & Physics, Lanzhou Institute of Physics, CAST, Lanzhou, Gansu 730000, China)
,
Tu Jianhui
(National Key Laboratory of Science and Technology on Vacuum Technology & Physics, Lanzhou Institute of Physics, CAST, Lanzhou, Gansu 730000, China)
,
Yang Shiyu
(National Key Laboratory of Science and Technology on Vacuum Technology & Physics, Lanzhou Institute of Physics, CAST, Lanzhou, Gansu 730000, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： EFTF IFCS ページ： 762-764 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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