文献
J-GLOBAL ID:201702264479257287
整理番号:17A0145228
残留応力の解析のための光学的方法とナノメータ領域における変位の測定【Powered by NICT】
Optical methods for the analysis of residual stresses and measurement of displacements in the nanometric range
著者 (5件):
Pedrini G.
(Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany)
,
Martinez-Garcia V.
(Institut fuer Fertigungstechnologie Keramischer Bauteile, Universitaet Stuttgart, Germany)
,
Weidmann P.
(Institut fuer Materialpruefung, Werkstoffkunde und Festigkeitslehre, Universitaet Stuttgart, Germany)
,
Singh A.
(Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany)
,
Osten W.
(Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
INDIN
ページ:
570-575
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)