文献
J-GLOBAL ID:201702264633123922
整理番号:17A1646040
IEC61000 4 2試験中の二次ESD放電の検出法【Powered by NICT】
Detection methods for secondary ESD discharge during IEC 61000-4-2 testing
著者 (4件):
Marathe Shubhankar
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO-65401, USA)
,
Rezaei Hossein
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO-65401, USA)
,
Pommerenke David
(EMC Laboratory, Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO-65401, USA)
,
Hertz Mike
(Teledyne LeCroy Chestnut Ridge, New York, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EMCSI
ページ:
152-157
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)