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文献
J-GLOBAL ID：201702264717275074
整理番号：17A0792722
不均一マトリックス中のナノ粒子分布のHAADF-STEM特性評価とシミュレーション【Powered by NICT】
HAADF-STEM characterization and simulation of nanoparticle distributions in an inhomogeneous matrix
LIU Z.
(Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France)
,
EPICIER T.
(MATEIS, UMR 5510 CNRS, Universite de Lyon, INSA-Lyon, Villeurbanne, France)
,
LEFKIR Y.
(Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France)
,
VITRANT G.
(IMEP-LAHC, Minatec, Grenoble-INP, CNRS-UMR 5130, Grenoble, France)
,
DESTOUCHES N.
(Univ Lyon, UJM-Saint-Etienne, CNRS, Institut d’Optique Graduate School, Laboratoire Hubert Curien UMR 5516, F-42023, Saint-Etienne, France)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 266 号： 1 ページ： 60-68 発行年： 2017年
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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