文献
J-GLOBAL ID:201702264732959468
整理番号:17A0965815
FPGAボードレベル試験と自動回帰のためのシステム認定プラットフォーム【Powered by NICT】
A System Qualification Platform for FPGA board level testing and automated regression
著者 (2件):
Yibin Sun
(Lattice Semiconductor (Shanghai) Co., LTD. 200233, China)
,
Ping Chen
(Lattice Semiconductor (Shanghai) Co., LTD. 200233, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CSTIC
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)