文献
J-GLOBAL ID:201702265335005015
整理番号:17A0362524
LED分解成分系まで【Powered by NICT】
LED degradation: From component to system
著者 (3件):
Hamon B.
(3 Philips Lighting, Miribel, France)
,
van Driel W.D.
(Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands)
,
van Driel W.D.
(Delft University of Technology, Delft, The Netherlands)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
599-604
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)