文献
J-GLOBAL ID:201702265506124821
整理番号:17A1250742
5~300K温度範囲にわたるバルクCMOS電流整合への直列抵抗の影響【Powered by NICT】
Impact of Series Resistance on Bulk CMOS Current Matching Over the 5-300K Temperature Range
著者 (4件):
Dao Nguyen Cong
(School of Electrical and Information Engineering, The University of Sydney, Sydney, NSW, Australia)
,
El Kass Abdallah
(School of Electrical and Information Engineering, The University of Sydney, Sydney, NSW, Australia)
,
Jin Craig T.
(School of Electrical and Information Engineering, The University of Sydney, Sydney, NSW, Australia)
,
Leong Philip H. W.
(School of Electrical and Information Engineering, The University of Sydney, Sydney, NSW, Australia)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
38
号:
7
ページ:
847-850
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)