文献
J-GLOBAL ID:201702265954455420
整理番号:17A1567872
深紫外検出のためのAlナノ粒子増強4H-SiC MSMフォトダイオードの高性能【Powered by NICT】
High-Performance of Al Nanoparticle Enhanced 4H-SiC MSM Photodiodes for Deep Ultraviolet Detection
著者 (3件):
Liu Shao-Xiong
(Department of Physics, Shanghai Normal University, Shanghai, China)
,
Wang Tao
(Department of Physics, Shanghai Normal University, Shanghai, China)
,
Chen Zhi-Zhan
(Department of Physics, Shanghai Normal University, Shanghai, China)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
38
号:
10
ページ:
1405-1408
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)