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文献
J-GLOBAL ID：201702265979118499
整理番号：17A1490219
時変ランダムジャンプを持つ劣化システムのための寿命予測【Powered by NICT】
Lifetime prognostics for deteriorating systems with time-varying random jumps
Zhang Jian-Xun
(Department of Automation, Xi’an Research Institute of High-Tech, Xi’an, Shaanxi, PR China)
,
Zhang Jian-Xun
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, PR China)
,
Hu Chang-Hua
(Department of Automation, Xi’an Research Institute of High-Tech, Xi’an, Shaanxi, PR China)
,
He Xiao
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, PR China)
,
Si Xiao-Sheng
(Department of Automation, Xi’an Research Institute of High-Tech, Xi’an, Shaanxi, PR China)
,
Liu Yang
(College of Electrical Engineering and Automation, Shandong University of Science and Technology, Qingdao, PR China)
,
Zhou Dong-Hua
(College of Electrical Engineering and Automation, Shandong University of Science and Technology, Qingdao, PR China)
,
Zhou Dong-Hua
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, PR China)
資料名：
Reliability Engineering & System Safety
(Reliability Engineering & System Safety)
巻： 167 ページ： 338-350 発行年： 2017年
JST資料番号： D0980B ISSN： 0951-8320 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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