文献
J-GLOBAL ID:201702266195126445
整理番号:17A1356127
レート小アベイラビリティの最適二値線形局所修復可能符号【Powered by NICT】
Rate optimal binary linear locally repairable codes with small availability
著者 (2件):
Kadhe Swanand
(Department of Electrical and Computer Engineering at Texas A&M University, USA)
,
Calderbank Robert
(Department of Electrical and Computer Engineering at Duke University, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ISIT
ページ:
166-170
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)