文献
J-GLOBAL ID:201702266550870333
整理番号:17A0445403
硫化すず薄膜の感度に及ぼす歪の影響【Powered by NICT】
Influence of strain on the sensitivity of tin sulphide films
著者 (3件):
Gupta Yashika
(Department of Electronics, S.G.T.B. Khalsa College, University of Delhi, Delhi 110007, India)
,
Gupta Yashika
(Department of Electronic Science, University of Delhi-South Campus, New Delhi 110021, India)
,
Arun P.
(Department of Electronics, S.G.T.B. Khalsa College, University of Delhi, Delhi 110007, India)
資料名:
Materials Chemistry and Physics
(Materials Chemistry and Physics)
巻:
191
ページ:
86-88
発行年:
2017年
JST資料番号:
E0934A
ISSN:
0254-0584
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)