文献
J-GLOBAL ID:201702266773396210
整理番号:17A1555869
ROBDDベース組合せ回路中の多重故障を検出するためのテストパターン生成【Powered by NICT】
Test pattern generation to detect multiple faults in ROBDD based combinational circuits
著者 (3件):
Shah Toral
(CADSL, Dept. of Electrical Engineering, Indian Institute Of Technology Bombay, India)
,
Matrosova Anzhela
(Dept. of Applied Mathematics and Cybernatics, Tomsk State University, Russia)
,
Singh Virendra
(CADSL, Dept. of Electrical Engineering, Indian Institute Of Technology Bombay, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IOLTS
ページ:
211-212
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)