文献
J-GLOBAL ID:201702266802785216
整理番号:17A1651230
エントロピー損失関数の下での可試験性成長の期待されるBayes追跡【Powered by NICT】
Expected Bayesian tracking of testability growth under entropy loss function
著者 (5件):
Zonghao Yang
(Xi’an Institute of High-Tech, Xi’an, P. R. China)
,
Huafeng He
(Xi’an Institute of High-Tech, Xi’an, P. R. China)
,
Tianmei Li
(Xi’an Institute of High-Tech, Xi’an, P. R. China)
,
Congqi Xu
(Institute of Construction Engineering Research, Xi’an, P. R. China)
,
Zongxian Yang
(Fudan University, Shanghai, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PHM (Harbin)
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)