文献
J-GLOBAL ID:201702266847950828
整理番号:17A1544922
SRAMベースのFPGAのためのプローブに基づくSEU検出法【Powered by NICT】
A probe-based SEU detection method for SRAM-based FPGAs
著者 (2件):
Sterpone Luca
(CAD Group, Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
,
Boragno Luca
(CAD Group, Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
154-158
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)