文献
J-GLOBAL ID:201702266943316420
整理番号:17A0964177
高電力電磁パルスによるRFフロントエンドの低雑音増幅器の損傷のモデル化【Powered by NICT】
Damage Modeling of a Low-Noise Amplifier in an RF Front-End Induced by a High Power Electromagnetic Pulse
著者 (3件):
Baek Ji-Eun
(Department of Electrical Engineering, Hanyang University, Seoul, South Korea)
,
Cho Young-Maan
(Department of Electrical Engineering, Hanyang University, Seoul, South Korea)
,
Ko Kwang-Cheol
(Department of Electrical Engineering, Hanyang University, Seoul, South Korea)
資料名:
IEEE Transactions on Plasma Science
(IEEE Transactions on Plasma Science)
巻:
45
号:
5
ページ:
798-804
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0036B
ISSN:
0093-3813
CODEN:
ITPSBD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)