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文献
J-GLOBAL ID：201702266982405126
整理番号：17A0470078
高k NMOSトランジスタの時間ゼロと時間依存変動間の依存性の研究【Powered by NICT】
Investigation of dependence between time-zero and time-dependent variability in high-κ NMOS transistors
Hassan Mohammad Khaled
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
,
Roy Kaushik
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 70 ページ： 22-31 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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