文献
J-GLOBAL ID:201702267031200314
整理番号:17A0792733
電子後方散乱回折パターンからの格子定数測定【Powered by NICT】
Lattice constant measurement from electron backscatter diffraction patterns
著者 (3件):
SAOWADEE N.
(Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark)
,
AGERSTED K.
(Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark)
,
BOWEN J.R.
(Department of Energy Conversion and Storage, Technical University of Denmark, Riso Campus, Frederiksborgvej, Roskilde, Denmark)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
266
号:
2
ページ:
200-210
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)