文献
J-GLOBAL ID:201702267316754553
整理番号:17A0180479
テープとリールパッケージにおける電気部品の欠陥検査のための視覚システムの開発【Powered by NICT】
Development of vision system for defect inspection of electric parts in the tape and reel package
著者 (4件):
Lee Ji Yeon
(School of Mechanical and ICT convergence Engineering, Sunmoon University, Asan, Chungnam, Korea)
,
Han Chang Ho
(School of Mechanical and ICT convergence Engineering, Sunmoon University, Asan, Chungnam, Korea)
,
Ko Kuk Won
(School of Mechanical and ICT convergence Engineering, Sunmoon University, Asan, Chungnam, Korea)
,
Lee Sangjoon
(School of Mechanical and ICT convergence Engineering, Sunmoon University, Asan, Chungnam, Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICCAS
ページ:
437-439
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)