文献
J-GLOBAL ID:201702267337180946
整理番号:17A1422787
傾斜電子ビームからの増強されたX線自由電子レーザ性能【Powered by NICT】
Enhanced X-ray free-electron-laser performance from tilted electron beams
著者 (3件):
Prat Eduard
(Paul Scherrer Institut, CH-5232 Villigen PSI, Switzerland)
,
Bettoni Simona
(Paul Scherrer Institut, CH-5232 Villigen PSI, Switzerland)
,
Reiche Sven
(Paul Scherrer Institut, CH-5232 Villigen PSI, Switzerland)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻:
865
ページ:
1-8
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0208B
ISSN:
0168-9002
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)