前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201702267431437679
整理番号：17A1029346
16nm FinFET論理経路のためのソフトエラーマスキングのエネルギーと遅延のトレードオフ:近しきい値領域におけるプロセス変動の調査と影響【Powered by NICT】
Energy and Delay Tradeoffs of Soft-Error Masking for 16-nm FinFET Logic Paths: Survey and Impact of Process Variation in the Near-Threshold Region
Alghareb Faris S.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Central Florida, Orlando, FL, USA)
,
Ashraf Rizwan A.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Central Florida, Orlando, FL, USA)
,
Alzahrani Ahmad
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Central Florida, Orlando, FL, USA)
,
DeMara Ronald F.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Central Florida, Orlando, FL, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻： 64 号： 6 ページ： 695-699 発行年： 2017年
JST資料番号： W0347A ISSN： 1549-7747 CODEN： ITCSFK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。