文献
J-GLOBAL ID:201702267527414735
整理番号:17A1550676
低温溶液処理したp型ガリウムすず酸化物(GTO)透明半導体薄膜の紫外線支援アニーリング【Powered by NICT】
Ultraviolet-assisted annealing for low-temperature solution-processed p-type gallium tin oxide (GTO) transparent semiconductor thin films
著者 (2件):
Tsay Chien-Yie
(Department of Materials Science and Engineering, Feng Chia University, Taichung 40724, Taiwan)
,
Liang Shan-Chien
(Department of Materials Science and Engineering, Feng Chia University, Taichung 40724, Taiwan)
資料名:
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻:
71
ページ:
441-446
発行年:
2017年
JST資料番号:
W1055A
ISSN:
1369-8001
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)