文献
J-GLOBAL ID:201702267892111863
整理番号:17A1637522
電気光学プロービング/周波数マッピング(EOP/EOFM)応用新しいアナログデバイスの故障分離【Powered by NICT】
Electro optical probing / frequency mapping (EOP/EOFM) application in failure isolation of advanced analogue devices
著者 (4件):
Zhang Haus
(Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385)
,
Tian Power
(Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385)
,
Qian Xuejian
(Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385)
,
Wang Winter
(Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IPFA
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)