文献
J-GLOBAL ID:201702268094123306
整理番号:17A0457296
EMC試験における3種の新しいストリップ線路TEMセル【Powered by NICT】
Three new strip-line TEM cells in EMC test
著者 (3件):
Wen Luo
(College of Information Engineering, Communication University of China, Beijing, China)
,
Yalin Guan
(College of Information Engineering, Communication University of China, Beijing, China)
,
Jin Li
(College of Information Engineering, Communication University of China, Beijing, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICEICT
ページ:
497-500
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)