文献
J-GLOBAL ID:201702268249777825
整理番号:17A1271077
DLTSと低周波雑音分光法によるDUWELL構造InAs/InGaAs/GaAsのバンド構造特徴の研究【Powered by NICT】
Investigation of band diagram features of the DUWELL-structure InAs/InGaAs/GaAs by DLTS and low-frequency noise spectroscopy
著者 (3件):
Litvinov V. G.
(Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan State Radio Engineering University (RSREU), Russian Federation)
,
Ermachikhin A. V.
(Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan State Radio Engineering University (RSREU), Russian Federation)
,
Kusakin D. S.
(Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan State Radio Engineering University (RSREU), Russian Federation)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICNF
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)