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文献
J-GLOBAL ID:201702268558243389   整理番号:17A0852596

再利用パワーゲーティングインフラストラクチャによるB TIエージングの粗視化オンラインモニタリング【Powered by NICT】

Coarse-Grained Online Monitoring of BTI Aging by Reusing Power-Gating Infrastructure
著者 (6件):
Tenentes Vasileios
(Department of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, U.K.)
Rossi Daniele
(Department of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, U.K.)
Yang Sheng
(ARM Ltd., Cambridge, U.K.)
Khursheed Saqib
(Department of Electrical Engineering and Electronics, University of Liverpool, Liverpool, U.K.)
Al-Hashimi Bashir M.
(Department of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, U.K.)
Gunn Steve R.
(Department of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, U.K.)

資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)

巻: 25  号:ページ: 1397-1407  発行年: 2017年 
JST資料番号: W0516A  ISSN: 1063-8210  CODEN: ITCOB4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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