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J-GLOBAL ID:201702268630888804   整理番号:17A0404111

多重アークイオンめっきにより蒸着したAl-Ti-N膜の微細構造と性質に及ぼす負バイアス電圧の影響【Powered by NICT】

Influence of negative bias voltage on microstructure and property of Al-Ti-N films deposited by multi-arc ion plating
著者 (6件):
Cai Fei
(Research Center of Modern Surface and Interface Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)
Chen Mohan
(Research Center of Modern Surface and Interface Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)
Chen Mohan
(School of Materials Science and Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)
Li Mingxi
(School of Materials Science and Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)
Zhang Shihong
(Research Center of Modern Surface and Interface Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)
Zhang Shihong
(School of Materials Science and Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan City, Anhui Province 243002, PR China)

資料名:
Ceramics International  (Ceramics International)

巻: 43  号:ページ: 3774-3783  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0705A  ISSN: 0272-8842  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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