文献
J-GLOBAL ID:201702268692407636
整理番号:17A0385842
X線光電子分光法時間依存測定法により分析した軟X線照射が原因となったCH3NH3PbIペロブスカイトの劣化
Degradation of CH3NH3PbI3 perovskite due to soft x-ray irradiation as analyzed by an x-ray photoelectron spectroscopy time-dependent measurement method
著者 (7件):
Motoki Keisuke
(School of Fundamental Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo 169-8555, Japan)
,
Miyazawa Yu
(Research and Development Directorate, JAXA, Sagamihara, Kanagawa 252-5210, Japan)
,
Kobayashi Daisuke
(Institute of Space and Astronautical Science, JAXA, Sagamihara, Kanagawa 252-5210, Japan)
,
Ikegami Masashi
(Toin University of Yokohama, Yokohama, Kanagawa 225-8503, Japan)
,
Miyasaka Tsutomu
(Toin University of Yokohama, Yokohama, Kanagawa 225-8503, Japan)
,
Yamamoto Tomoyuki
(School of Fundamental Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo 169-8555, Japan)
,
Hirose Kazuyuki
(School of Fundamental Science and Engineering, Waseda University, Shinjuku, Tokyo 169-8555, Japan)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
121
号:
8
ページ:
085501-085501-4
発行年:
2017年02月28日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)