文献
J-GLOBAL ID:201702268777122550
整理番号:17A1475240
金属中の水素の深さプロファイリングと水素拡散係数の決定へのトリチウムイメージングプレート技術の応用
Application of a Tritium Imaging Plate Technique to Depth Profiling of Hydrogen in Metals and Determination of Hydrogen Diffusion Coefficients
著者 (2件):
Otsuka Teppei
(Department of Electric and Electronic Engineering, Faculty of Science and Engineering, Kindai University)
,
Tanabe Tetsuo
(Interdisciplinary Graduate school of Engineering Sciences, Kyushu University)
資料名:
Materials Transactions
(Materials Transactions)
巻:
58
号:
10
ページ:
1364-1372(J-STAGE)
発行年:
2017年
JST資料番号:
G0668A
ISSN:
1345-9678
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)