文献
J-GLOBAL ID:201702269171591789
整理番号:17A1394912
修正KRRアルゴリズムに基づくキー性能指標関連故障検出【Powered by NICT】
Key performance indicator related fault detection based on modified KRR algorithm
著者 (6件):
Sun Wei
(College of Engineering, Bohai University, Jinzhou, 121013, China)
,
Wang Guang
(College of Engineering, Bohai University, Jinzhou, 121013, China)
,
Yin Shen
(Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China)
,
Jiao Jianfang
(College of Engineering, Bohai University, Jinzhou, 121013, China)
,
Guo Pengxing
(Northeastern University, Shenyang 110819, China)
,
Sun Chengyuan
(College of Engineering, Bohai University, Jinzhou, 121013, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CCC
ページ:
7015-7020
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)