文献
J-GLOBAL ID:201702269261205445
整理番号:17A0316960
LEDパッケージの寿命特性の予測【Powered by NICT】
Lumen maintenance predictions for LED packages
著者 (7件):
van Driel W.D.
(Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands)
,
van Driel W.D.
(Delft University of Technology, DIMES-ECTM, The Netherlands)
,
Schuld M.
(CQM, Eindhoven, The Netherlands)
,
Jacobs B.
(Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands)
,
Commissaris F.
(Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands)
,
van der Eyden J.
(Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands)
,
Hamon B.
(Philips Lighting, Rue des Brotteaux, 01708 Miribel, France)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
62
ページ:
39-44
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)