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文献
J-GLOBAL ID：201702269324271432
整理番号：17A1038170
ロバストなカーボンナノチューブNFETの接触工学とチャネルドーピング【Powered by NICT】
Contact engineering and channel doping for robust carbon nanotube NFETs
Jianshi Tang
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
,
Farmer Damon
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
,
Bangsaruntip Sarunya
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
,
Kuan-Chang Chiu
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
,
Kumar Bharat
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
,
Shu-Jen Han
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： VLSI-TSA ページ： 1-2 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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