文献
J-GLOBAL ID:201702269368695787
整理番号:17A1420483
PINダイオード制限増幅システムの熱バーンアウト効果に関するマイクロ波パルス幅の影響【Powered by NICT】
The influence of microwave pulse width on the thermal burnout effect of a PIN diode limiting-amplifying system
著者 (2件):
Yi Shipeng
(State Key Laboratory on Microwave and Digital Communications, Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Du Zhengwei
(State Key Laboratory on Microwave and Digital Communications, Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
75
ページ:
102-109
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)