文献
J-GLOBAL ID:201702269539379885
整理番号:17A1186005
走査電子顕微鏡における後方散乱電子イメージングによる電子透過試料の組成定量化【Powered by NICT】
Composition quantification of electron-transparent samples by backscattered electron imaging in scanning electron microscopy
著者 (2件):
Mueller E.
(Laboratory for Electron Microscopy, Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Engesserstr. 7, 76131 Karlsruhe, Germany)
,
Gerthsen D.
(Laboratory for Electron Microscopy, Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Engesserstr. 7, 76131 Karlsruhe, Germany)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
173
ページ:
71-75
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)