文献
J-GLOBAL ID:201702270123011831
整理番号:17A0164307
硅基Zhe薄膜の赤外吸収スペクトルと電気特性を調べた。【JST・京大機械翻訳】
Infrared Absorption Spectra and Electrical Properties of Si Substrate Ge Thin Films
著者 (5件):
Wen Shumin
(College of Science,Inner Mongolia University of Technology)
,
Zhao Chunwang
(College of Science,Inner Mongolia University of Technology)
,
Wang Xijun
(Wulanchabu Radio-TV)
,
Li Jijun
(College of Science,Inner Mongolia University of Technology)
,
Hou Qingyu
(College of Science,Inner Mongolia University of Technology)
資料名:
Faguang Xuebao
(Faguang Xuebao)
巻:
37
号:
10
ページ:
1177-1181
発行年:
2016年
JST資料番号:
W1380A
ISSN:
1000-7032
CODEN:
FAXUEW
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
中国語 (ZH)