文献
J-GLOBAL ID:201702270266842450
整理番号:17A1996789
半導体および金属の機械的強度におけるサイズ効果:転位を介した塑性変形による歪み緩和
The size effect in the mechanical strength of semiconductors and metals: Strain relaxation by dislocation-mediated plastic deformation
著者 (1件):
DUNSTAN David J.
(Queen Mary Univ. London, London, GBR)
資料名:
Journal of Materials Research
(Journal of Materials Research)
巻:
32
号:
21
ページ:
4041-4053
発行年:
2017年11月14日
JST資料番号:
D0987B
ISSN:
0884-2914
CODEN:
JMREEE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)