前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201702270372139215   整理番号:17A1617335

白色干渉の振幅情報と位相情報に基づく極めて薄い透明電極ITO膜厚の計測

Measurement of extremely thin transparent electrode ITO film thickness based on amplitude information and phase information of white interference
著者 (3件):
CHEN Kai
(筑波大)
LEI Feng
(筑波大)
伊藤雅英
(筑波大)

資料名:
電気学会計測研究会資料  (電気学会研究会資料)

巻: IM-17  号: 26-31  ページ: 13-15  発行年: 2017年10月27日 
JST資料番号: Z0912A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。