文献
J-GLOBAL ID:201702270740613915
整理番号:17A0825745
故障診断のための深いモデルに基づく領域適応【Powered by NICT】
Deep Model Based Domain Adaptation for Fault Diagnosis
著者 (6件):
Lu Weining
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, China)
,
Liang Bin
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, China)
,
Cheng Yu
(IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
,
Meng Deshan
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen, China)
,
Yang Jun
(Graduate School at Shenzhen, Tsinghua University, Shenzhen, China)
,
Zhang Tao
(Department of Automation, Tsinghua University, Beijing, China)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻:
64
号:
3
ページ:
2296-2305
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0234A
ISSN:
0278-0046
CODEN:
ITIED6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)