文献
J-GLOBAL ID:201702271013125103
整理番号:17A0056287
近しきい値計算における誤り耐性回路のための新しい設計方法論【Powered by NICT】
A novel design methodology for error-resilient circuits in near-threshold computing
著者 (4件):
Lee Jaemin
(Ulsan National Institute of Science and Technology (UNIST))
,
Kim Sunmean
(Ulsan National Institute of Science and Technology (UNIST))
,
Kim Youngmin
(Kwangwoon University)
,
Kang Seokhyeong
(Ulsan National Institute of Science and Technology (UNIST))
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICCE-Asia
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)